A FAROBlu xE egy belépő szintű szkenenrfej, amely ideális minden olyan kis- és közepes méretű üzem számára, ahol optimalizálni kívánják a LEAN gyártási folyamatokat. A FAROBlu xE mérési tartománya a FAROBlu xP szkennerfej mérési tartományával egyezik meg, az ára viszont kedvezőbb.

FARO® Quantum X mérőkarok és FAROBlu szkennerfejek
FARO® Quantum X mérőkarok és FAROBlu szkennerfejek dokumentációjának letöltése	(6,2 MB)
FAROBlu xE szkennerfej dokumentációjának letöltése	(0,3 MB)

Négy különböző alkalmazáshoz optimalizált szkennerfej (gyorsaság, pontosság, termelékenység, költséghatékonyság); A továbbfejlesztett gyorscsatlakozó lehetővé teszi a szkennerfejek cseréjét újrakalibrálás nélkül is; A szkennerfejek csatlakoztathatóak a tapintógömb helyére is, így a nehezen hozzáférhető részek is könnyen digitalizálhatók. CLR technológia1 – 50%-kal jobb eredmény a kihívást jelentő felületek digitalizálása esetén. Javul a sötét, a fényvisszaverő és az áttetsző felületekről felvett pontfelhő minősége és csökken a mérési zaj; 1CLR – Continous Light Rectifications

Szkennerfej	xE
Pontosság	30 μm
A legkisebb pontsűrűség	40 μm
Tömeg	369.7 g
Max. pontsűrűség vonalanként	2000 pont/vonal
Max. kibocsátási frekvencia	200 Hz
A pontfelvétel sebessége	400.000 pont/sec
Lézer osztály	Class 2

Mérési tartomány	FARO Quantum X.S + FAROBlu xE	FARO Quantum X.M + FAROBlu xE	FARO Quantum X.E + FAROBlu xE
2.0 m	0.042 mm	0.043 mm	0.060 mm
2.5 m	0.044 mm	0.048 mm	0.066 mm
3.0 m	0.057 mm	0.065 mm	0.089 mm
3.5 m	0.070 mm	0.080 mm	0.101 mm
4.0 m	0.082 mm	0.090 mm	0.120 mm

²Szkenneres mérőrendszer pontossága: az ISO 10360-8 szabvány D melléklete alapján, L_DIA értékként van meghatározva. A táblázat minden értéke MPE értéket jelent (MPE – Maximum Permissible Error / Legnagyobb megengedett hiba)
L_DIA – Annak a gömbnek az átmérője, amely a különböző orientációkból mért gömbök középpontjait tartalmazza.